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認証
solid sample holder
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0.5、1.0、2.0、5.0nm の可変的な帯域幅の割れたビーム分光光度計の紫外線気力 T70+2015-03-05 19:55:20 |
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波長範囲 325 - 1100nm の割れたビーム分光光度計 T60V2015-03-05 19:55:47 |
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T60V 2nm の帯域幅の波長の再現性≤0.4nm の割れたビーム分光光度計2015-03-05 20:02:43 |
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環境モニタリング、2nm 分光帯域幅のための T60U の紫外線気力の分光光度計2015-03-05 21:25:39 |
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T70 光学放出割れたビーム分光光度計、測光の範囲- 0.3 - 3.0Abs2015-03-05 21:26:06 |
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T70+ の教育のための紫外線VisSplit ビーム分光光度計の、独立またはソフトウェア制御、2015-03-05 21:28:40 |
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T60V の紫外線気力の分光光度計、単一のビーム波長範囲 325 - 1100nm2015-03-05 21:28:14 |
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15 - 150 - 285mm のスキャンの半径、XD-6 が付いている 60kv X 線の粉の回折計2015-03-05 21:03:03 |
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物理学化学および分子篩のための XD-6 X 線の粉の回折計2015-03-05 21:01:17 |
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180mm のスキャンの半径、120°/Min 速度、15 - 60kv X 線の粉の回折計、XD-32015-03-05 21:03:36 |